螺紋塞規的檢驗

時間：2014-02-10

作者：螺紋量規_泊頭漢潤環保機械制造有限公司

詞條
詞條說明
鍵槽塞規光潔度
鍵槽塞規：主要用以檢驗鍵槽的寬度，為方便測量，故加工為通端和止端，外形是片形。因其具有測量方便，測量誤差小等優點，故被廣泛使用。光潔度的實物標準器是標準單刻線樣板和標準多刻線樣板，二者都由1到14級的標準樣板組成。由于標準樣板的檢定精度要求較高（相對誤差在2-3%），目前尚沒有合適的儀器可與鑒定，只能用比對方法檢定。各種光潔度工藝樣板可用雙管顯微鏡（檢定9級以下）、干涉顯微鏡（檢定10級以上）和
光滑塞規原理
光滑塞規、環規，是一種無刻度的**檢驗工具，用它來檢驗工件時，只能確定工件是否在允許的極限尺寸范圍內，不能測量出工件的實際尺寸檢驗孔徑的光滑較**規稱為塞規。一個塞規按被測孔的較大實體尺寸(即孔的較小極限尺寸)制造，另一個塞規按被測孔的較小實體尺寸(即孔的較大極限尺寸)制造。前者叫做塞規的“通規”(或“通端”)。后者叫做塞規的“止規”(或“止端”)。使用時，塞規的通規通過被檢驗孔，表示被測孔徑
光滑環規使用
光滑塞規、針規用于對孔進行綜合丈量。極限光面環規分為通端和止端；用于綜合丈量光面圓柱工件。校對光滑環規一般采用劃線定位測校，是內徑長度計量的基準；用于校正或檢修內徑丈量儀器和量具。校對光滑環規一般采用劃線定位測校，是內徑長度計量的基準；用于校正或檢修內徑丈量儀器和量具。光滑環規分為校對光面環規和極限光面規。? 光滑環規分為校對光面環規和極限光面規。極限光面環規分為通端和止端；用于綜合
螺紋塞規的檢驗
普通螺紋有兩類檢測方法：綜合檢驗和單項檢驗。綜合檢驗就是用量規對影響螺紋互換性的幾何參數偏差的綜合結果進行檢驗。其中包括：使用普通螺紋量規和止規分別對被測螺紋的作用中徑（含底徑）和單一中徑進行檢驗；使用光滑較**規對被測孔徑進行檢驗。螺紋量規通規模擬被測螺紋的較大實體牙型，檢驗被測螺紋的作用中徑是否**過其較大實體牙型的中徑，并同時檢驗底徑實際尺寸是否**過其較大實體尺寸。 ? 檢驗方