環境試驗設備標準及共性問題

時間：2016-11-16

作者：廣東宏展科技有限公司

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半導體芯片在進行高低溫測試時的注意事項
半導體芯片高低溫測試是jin屬、元器件、電子汽車配件、化學材料等材料行業經常能用到的測試，用于測試材料結構或復合材料。在經過高溫及較低溫的連續變化環境試驗我們可以檢測出半導體芯片忍受較端溫度變化的程度，得以在短時間內檢測到試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理損傷。在做半導體芯片高低溫測試需要特別注意，在使用的過程中不能輕易打開半導體芯片高低溫測試箱，主要原因如下：1.做半導體芯片高低溫測試時需要用
快速溫變試驗箱線性與非線性的區別
線性是指快速溫變試驗箱在工作運行中設定的某一段時間內，它的升溫速率和降溫速率是不變的，例如：設置升溫速率是10℃/min，那么它在這整個時間段內的升溫速率都是10℃/min，固定不變的，不會出現有時候是9℃/min，或者有時候是11℃/min，同理，降溫速度也是一樣的。非線性是指快速溫變試驗箱在某段時間內，工作的升溫速度或降溫速度是有變化的，它取的是一個平均升溫值或降溫值，例如：在某段時間內,升溫
三箱式冷熱沖擊試驗箱工作原理
三箱式冷熱沖擊試驗箱是根據用戶要求設計制造，適用于航空、航太、艦船、電工、電子等產品整機及零部件的高低溫沖擊試驗及高溫或低溫環境下的貯存和試驗。供用戶對整機（或部件）、電器、儀器、材料、涂層、鍍層等作相應的氣候環境加速試驗，以便對試品試驗行為做出評價。三箱式冷熱沖擊試驗箱是由三個箱體組成的，分別是高溫儲存室、低溫儲存室、和樣品實驗室。在箱體之間分別有兩個風道有氣缸控制，風道和氣缸就是實現沖擊試驗溫
老化三要素
光照、高溫和潮濕，這三個因素會造成材料的老化損害，同時也是日常中設備經常會接觸到的元素，它們往往同時發生作用，所造成的危害將大于其中任一因素的單獨作用。1、光照不同材料對光的敏感性不同。對于經久耐用的材料，如大多數涂料、塑料、紫外線的短波段是引起大部分聚合老化的原因。然而，對于不是那么經久耐用的材料，比如一些顏料和染料，紫外線的長波段甚至可見光也會使其產生嚴重的才華。2、高溫當溫度升高時，光的破