x射線測厚儀系統結構構成

時間：2019-08-20

作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司

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RoHS檢測儀之XRF的原理詳解及采購建議
X射線定義：l X射線是一種波長較短的電磁輻射,通常是指能量范圍在0.1-100KeV的光子.X射線與物質的相互作用主要有熒光.吸收.散射三種。X射線的熒光物質中的組成元素產生特征輻射,通過測量和分析樣品產生的X射線熒光,即可獲得樣品中的元素組成,得到物質成分的定性和定量信息.l X射線光譜儀通常可分為兩大類:波長色散(WDXRF)和能量色散(EDXRF)X射線熒光光譜儀.l X射線熒光分析技術的
煙氣重金屬在線分析儀
產品說明、技術參數及配置CEMS-X100是天瑞儀器20多年X射線熒光（XRF）研發制造經驗的結晶。儀器結合煙氣顆粒物稀釋采樣技術和等速采樣技術，將煙氣中水分和溫度降至一定溫度后，顆粒物自動富集在卷狀濾膜上，采用高度集成**探測器和X射線熒光數字多道分析技術檢測重金屬顆粒物在X射線激發下產生的X熒光強度，通過信號強度和體積換算精確計算煙氣顆粒物中重金屬的濃度。實現煙氣中鉛、汞、鎘、鉻、砷等幾十種重
x射線測厚儀系統結構構成
X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業計算機為**，采集計算數據并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統，已達到要求的軋制厚度.用戶操作終端觸摸屏用戶操作終端包括一個**的計算機和高分辨率的彩色顯示器。可顯示整個系統的檢測、設定、偏差值；用戶通過軟件顯示頁面可直接控制和操作測厚儀。主操作頁顯示正常
涂鍍層測厚儀的測量操作方法？
涂鍍層測厚儀是無損檢測技術是一門理論上綜合性較強，又非常重視實踐環節的很有發展前途的學科。它涉及到材料的物理性質、產品設計、制造工藝、斷裂力學以及有限元計算等諸多方面。涂鍍層測厚儀在化工、電子、電力、金屬等行業中，為了實現對各類材料的保護或裝飾作用，通常要采用噴涂、有色金屬覆蓋以及磷化、陽極氧化處理等方法，這樣，便出現了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學生成膜等概念，我們稱之為“覆層”。覆層的厚度測量已