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X射線熒光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線熒光(X-ray fluorescence,XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用于元素分析和化學分析,特別是在金屬,玻璃,陶瓷和建材的調查和研究,地球化學,法醫學,考古學和藝術品,例如油畫和壁畫。 一種射線式
RoHs是《電氣、電子設備中限制使用某些有害物質指令》(the Restriction of the use of certain hazardous substances in electrical and electronic equipment)的英文縮寫。該標準將于2006年7月 1日開始正式實施,主要用于規范電子電氣產品的材料及工藝標準,使之更加有利于人體健康及環境保護。該標準的目的在于
波長色散X射線熒光光譜采用晶體或人工擬晶體根據bragg定律將不同能量的譜線分開,然后進行測量。波長色散X射線熒光光譜一般采用X射線管作激發源,可分為順序式(或稱單道式或掃描式)、同時式(或稱多道式)譜儀、和順序式與同時式相結合的譜儀三種類型。順序式通過掃描方法逐個測量元素,因此測量速度通常比同時式慢,適用于科研及多用途的工作。同時式則適用于相對固定組成,對測量速度要求高和批量試樣分析, 順序式與
RoHS檢測儀就是歐盟RoHS測試標準的檢測儀器。簡單的說就是測試鉛Pb,鎘Cd,汞Hg,六價鉻Cr6+,多溴二苯醚PBDE,多溴聯苯PBB六種有害物質的儀器。元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)元素含量分析范圍為1PPm到9999%RoHS指令規定的有害元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br) 檢測限最高達1PPM;測量時間: 60-200秒溫度適應范圍為15°C至30°C電源:交流220V+5V (
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
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