PGY-UFS3.X-PA分析儀產(chǎn)品說明

時間：2025-02-12

作者：深圳市歐奧電子科技有限公司

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示波器測試與協(xié)議分析儀測試的區(qū)別
示波器測試與協(xié)議分析儀測試是電子通信領域中兩種互補但**目標差異顯著的測試手段，主要區(qū)別體現(xiàn)在測試對象、**功能、關注重點、應用場景等多個維度。以下從具體維度詳細對比：一、測試對象不同示波器：聚焦于物理層的電信號（或光信號的電轉換信號），直接測量電壓、電流等物理量隨時間的變化。例如：電路板上的脈沖信號、總線的差分電壓（如 USB 的 D+/- 信號）、射頻信號的波形等。協(xié)議分析儀：聚焦于協(xié)議層的
調試eMMC啟動失敗：使用 PGY-SSM 捕獲和分析啟動數(shù)據(jù)
嵌入式系統(tǒng)依靠其eMMC存儲中的啟動序列來加載固件并將控制權移交給應用程序代碼。然而，錯誤配置的分區(qū)、損壞的啟動數(shù)據(jù)或意外的?eMMC響應可能會破壞此過程，導致難以使用標準工具診斷的靜默故障。借助PGY-SSM SD/SDIO/eMMC 協(xié)議分析儀，您可以實時捕獲整個啟動交互，準確查明問題所在，并可視化關鍵協(xié)議事件，而*中斷被測設備。為什么 eMMC 啟動失敗難以調試·低級通信：在掛
使用SPMI協(xié)議分析儀檢測PMIC焊接問題有哪些注意事項
使用SPMI協(xié)議分析儀檢測焊接問題時，需兼顧硬件連接的可靠性、信號分析的準確性和調試邏輯的嚴謹性，避免因操作不當導致誤判或遺漏問題。以下是關鍵注意事項：一、硬件連接與探針設置：避免“檢測工具引入新問題”探針接觸必須可靠，排除“假陽性”干擾焊接問題的**是“物理連接異常”，若分析儀探針與SPMI引腳接觸不良（如探針未壓緊、探針頭氧化），會導致信號捕獲失真（如波形毛刺、信號丟失），易被誤判為焊接問題。
Prodigy測試解決方案，適合 ASIC、SoC、AI 芯片等多種類型的芯片項目
印度Prodigy Technovations是MIPI和JEDEC 標準的貢獻成員，也是目前全世界排名**的UFS/UniPro協(xié)議分析儀(Analyzer)及訓練器（Exerciser）的測試廠商，為復雜的系統(tǒng)級芯片（SoC）設計的半導體客戶提供**和快速的測試解決方案。Prodigy**的測試解決方案，適合 ASIC、SoC、AI 芯片等多種類型的芯片項目，尤其適用于對驗證效率和接口靈活性有