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膜厚儀檢測鍍層厚度的原理磁性測厚法是利用樣品與標準磁鐵之間的吸引力變化轉化為涂層厚度。該方法僅適用于對磁性能敏感的基體上的非磁性涂層,如鋼基體上的銅、鋅、錫等涂層。鋼件上的鎳涂層不能很好地測量結果。磁性測厚法的優點是為鋼基體上的非磁性涂層提供了一種快速的測量方法,其精度可達85%-90%。測量樣品的粗糙度對測量結果有影響。如果被測部分的基體非常薄,例如,如果樣品的厚度小于0.25毫米,會有一個很大
膜厚儀可以測鍍層厚度嗎?目前,儀器測量厚度的方法有很多。例如,磁性法、渦流法、β射線反向散射法、熒光X射線法等原理采用探頭或頭等測厚儀直接測量鍍層。磁性法和渦流法是常用的便攜式膜厚儀。采用磁性法的膜厚計可以快速、準確地檢測磁性金屬底座上各種非磁涂層的厚度。例如,可以用Fe基探頭測量鋼材、鍍鉻層、鍍銅層、鍍鋅層、油漆層、粉末噴涂層等。在非磁性金屬基礎上涂層的各種非導電性涂層厚度,如鋁、銅、黃銅、不銹
ROHS檢測儀故障排除一、數據偏差。這或許和挑選樣品測量的種類不一樣,也有就是樣品光譜不經意間遮蓋了一個樣品檢驗,這就導致在結果上會有挺大的差別,而導致這類狀況的緣故一般是在測量時出現了不正確的曲線圖,或是是有一些不正確的信息內容存有,此外也有就是說樣品太小和樣品自身存有的難題。ROHS檢測設備特性X射線放射性同位素源或是X射線發生器放出的X射線或是與樣品中要素的原子相互作用,將原子內層電子放射出
一、數據偏差這可能不同于樣品測量類型的選擇,是樣品光譜無意中覆蓋樣品測試,這使得結果非常不同,原因一般是測量曲線錯誤,或有一些錯誤的信息,另一點是樣品太小,樣品本身有問題。ROHS檢測設備特性X輻射放射性同位素源或同位素源X輻射發生器釋放X射線或Γ射線與樣品中元素的原子相互作用,從原子的內層電子中分離出來。當外部電子補充內部電子時,原子的固有能量就會被放射出來X射線-特征X射線。所有這些原因都可能
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