可程式高低溫試驗箱箱使用方法以及注意事項

時間：2022-08-15作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：243

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗箱,恒溫恒濕試驗箱,快速溫度循環(huán)試驗箱等

• 詞條

  詞條說明

• 芯片研發(fā)過程中的可靠性測試有哪些

  一、芯片可靠性測試比常見的幾種試驗：加速測試：在半導(dǎo)體器件中，常見的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。在大多數(shù)情況下，加速測試不改變故障的物理特性，但會改變觀察時間。加速條件和正常使用條件之間的變化稱為“降額”。高加速測試是基于 JEDEC 的資質(zhì)認證測試的關(guān)鍵部分。溫度循環(huán)：根據(jù) JED22-A104 標(biāo)準，溫度循環(huán) (TC) 讓部件經(jīng)受較端高溫和低溫之間的轉(zhuǎn)換。進行該測試時，將部件反復(fù)暴露

• HAST定義和測試標(biāo)準

  一、HAST高加速溫濕度應(yīng)力測試（HAST）是一種以溫濕度為環(huán)境參數(shù)的高加速電子元器件可靠性測試方法。 HAST 也稱為壓力鍋測試 (PCT) 或不飽和壓力鍋測試 (USPCT)。其目的是通過將測試室中的水蒸氣壓力增加到**測試樣品內(nèi)部水蒸氣分壓的較高水平來評估測試樣品的耐濕性。這個過程在時間上加速了水分滲入樣品中。二、HAST測試標(biāo)準HAST 是加速耐濕性測試的加速版本。與高溫/高濕測試（85°

• Lab Companion高低溫試驗箱走進同濟大學(xué)

  同心同德同舟楫，濟人濟事濟！*大*史悠久、聲譽**，是ZGzui早的國立大學(xué)之一，是jiaoyubu直屬并與上海市共建的國內(nèi)重dian大學(xué)。經(jīng)過115年的發(fā)展，*大學(xué)已經(jīng)成為一所特色鮮明、在海內(nèi)外有較大影響力的綜合性、研究型、guoji化大學(xué)，綜合實力國內(nèi)高校**。學(xué)校始于1907年德國醫(yī)生埃里希?寶隆在中德兩國fu和shehui各界支持下創(chuàng)辦的*德文醫(yī)學(xué)堂。1912年與創(chuàng)辦不久的*德文

• 高低溫試驗箱出現(xiàn)故障該怎么辦？

  高低溫試驗箱出現(xiàn)故障該怎么辦？ 高低溫試驗箱基本故障排除方法： 一、高低溫試驗設(shè)備.在高溫試驗中，如溫度變化達不到試驗溫度值時，可以檢查電器系統(tǒng)，逐一排除故障。如溫度升得很慢，就要查看風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)，看一下風(fēng)循環(huán)的調(diào)節(jié)擋板是否開啟正常，反之，就檢查風(fēng)循環(huán)的電機 運轉(zhuǎn)是否正常。如溫度過沖厲害那么就需要整定PID的設(shè)置參數(shù)。如果溫度直接上升，過溫保護，那么，控制器出故障，須更換控制儀表。 二、.高低溫試