新型光纖光譜儀在吸光測量優(yōu)勢表現(xiàn)

時間：2022-09-03作者：深圳維爾克斯光電有限公司瀏覽：192

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  詞條說明

• 來自Femtum搭建的微機(jī)械加工、中紅外激光材料的應(yīng)用平臺

  近期Femtum在其博客網(wǎng)站上發(fā)表了一篇文章。在這篇文章中，F(xiàn)emtum展示了其新的3μm激光加工實(shí)驗(yàn)平臺。隨著對中紅外激光器的工業(yè)需求不斷增長，F(xiàn)emtum的專業(yè)團(tuán)隊(duì)正在利用該平臺展示其對半導(dǎo)體、聚合物和有機(jī)材料的獨(dú)特的微加工能力。此平臺可使用我們的激光器用于測試您的應(yīng)用。Femtum制造的先進(jìn)的激光器是市場上第一款在中心波長約3微米處工作的中紅外（MIR）光纖激光器，其獨(dú)特的性能還有待開發(fā)。F

• Xenics中波紅外相機(jī)(MWIR相機(jī))

  Xenics提供的中波紅外相機(jī)、MWIR相機(jī)，基于InSb或MCT材料探測器的制冷中波紅外制冷相機(jī)-Tigris系列。Xenics中紅外相機(jī)Tigris 640產(chǎn)品系列包含Tigris 640 InSb、Tigris 640 InSb BB、Tigris 640 MCT和Tigris 640 MCT BB四個型號。從型號的命名上就可以看出它們分別采用了InSb和MCT兩種芯片。Xenics中紅外相

• 光纖光譜儀應(yīng)用在檢測薄膜厚度

  首先介紹一下光的干涉。由于光的波動特性，若干列光波在空間相遇時，互相疊加或互相抵消，引起光強(qiáng)的重新分布，在某些區(qū)域始終加強(qiáng)，在某些區(qū)域始終減弱，從而出現(xiàn)了明暗相間的條紋，這種現(xiàn)象稱為光的干涉。使用光纖光譜儀測薄膜厚度上圖為使用海洋光學(xué)光纖光譜儀，利用干涉效應(yīng)來測量薄膜厚度的原理圖。當(dāng)一束光以θ1從薄膜表面入射，其中一部分光直接反射，另一部分光則以θ2進(jìn)入薄膜發(fā)生折射，折射光經(jīng)膜層下表面反射后，再經(jīng)

• IR Viewer紅外觀察儀注意事項(xiàng)與使用方法

  高性能紅外觀察儀VIR系列是在高級圖像轉(zhuǎn)換器的基礎(chǔ)上設(shè)計的，是由Optogama紅外觀察儀ABRIS M系列升級而來，主要是用于在350-2000nm光譜區(qū)域觀察紅外激光、LED、染料等紅外源的間接輻射。該紅外觀測儀設(shè)備重量輕，結(jié)構(gòu)緊湊，可手持使用，post安裝有1/4-20內(nèi)螺紋。VIR觀察儀具有較好的分辨率、紅外靈敏度和增強(qiáng)因子。此外，它可以與CCD相機(jī)適配器一起使用，用于PC和圖像的視頻注冊