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三綜合試驗箱/重慶溫濕度震動三綜合試驗箱/重慶高低溫振動三綜合箱/成都高低溫濕熱振動環(huán)境試驗箱/成都三綜合箱
三綜合試驗箱/重慶溫濕度震動三綜合試驗箱/重慶高低溫振動三綜合箱/成都高低溫濕熱振動環(huán)境試驗箱/成都三綜合箱 三綜合試驗箱: 本試驗箱適用于對產(chǎn)品(整機)、零部件、材料進行高溫、低溫、高低溫循環(huán)試驗,以及恒定濕熱和交變濕熱試驗,同時在與振動臺配接后,可以實現(xiàn)溫度-濕度-振動三因素的綜合試驗。 三綜合系列技術(shù)參數(shù) 型號 WSZ605 WSZ61 WSZ62 ? ? ?
紫外光老化試驗是一種對產(chǎn)品進行紫外光老化試驗的試驗方法。這個試驗可以評價材料,涂料,以及諸如塑料,涂料,橡膠,纖維,織物等在室外使用的產(chǎn)品。紫外光老化試驗是利用紫外光管內(nèi)的紫外光,對被測試樣進行加速老化試驗。輻照強度及試驗時長可依試驗要求及本產(chǎn)品之設(shè)計而定。但是,經(jīng)過多長時間的UV老化測試才相當(dāng)于產(chǎn)品的實際使用年限呢?這并不是一個確切的答案,因為實際的年限取決于許多因素,例如使用環(huán)境、氣候條件、維
電子元器件主要有三類檢測項目:1.常規(guī)測試主要測試電子元器件的外觀、尺寸、電性能、安全性能等;根據(jù)元器件的規(guī)格書測試基本參數(shù),如三極管,要測試外觀、尺寸、ICBO、VCEO、VCES、HFE、引腳拉力、引腳彎曲、可焊性、耐焊接熱等項目,部分出口產(chǎn)品還要測試RoHS。2.可靠性測試主要測試電子元器件的壽命和環(huán)境試驗;根據(jù)使用方的要求和規(guī)格書的要求測試器件的壽命及各種環(huán)境試驗,如三極管,要進行高溫試驗
據(jù)標(biāo)準(zhǔn)要求高溫烘箱的工作室容積至少應(yīng)是被測試產(chǎn)品外廓體積的3~5倍,其理由如下:1、被測試產(chǎn)品置入箱體后擠占了流暢的通道,通道變窄將導(dǎo)致氣流流速的增加,加速氣流與被測試產(chǎn)品之間的熱交換。這與環(huán)境條件的再現(xiàn)不符,因為在有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中對涉及溫度環(huán)境試驗都規(guī)定高低溫試驗箱內(nèi)試驗樣件周圍的空氣流速不應(yīng)**過1.7m/s,以防止試驗樣件和周圍氣氛產(chǎn)生不符合實際的熱傳導(dǎo),在空載時試驗箱內(nèi)平均風(fēng)速為0.6~0.8m/
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