X熒光光譜鍍層測厚儀

時間：2024-09-25

作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司

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詞條說明
X射線熒光光譜儀常見有那幾種分類
波長色散X射線熒光光譜采用晶體或人工擬晶體根據bragg定律將不同能量的譜線分開，然后進行測量。波長色散X射線熒光光譜一般采用X射線管作激發源，可分為順序式(或稱單道式或掃描式)、同時式(或稱多道式)譜儀、和順序式與同時式相結合的譜儀三種類型。順序式通過掃描方法逐個測量元素，因此測量速度通常比同時式慢，適用于科研及多用途的工作。同時式則適用于相對固定組成，對測量速度要求高和批量試樣分析, 順序式與
X射線熒光光譜儀是什么？
X射線熒光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線熒光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用于元素分析和化學分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調查和研究，地球化學，法醫學，考古學和藝術品，例如油畫和壁畫。一種射線式
X射線熒光光譜儀的儀器類別及特點
X射線熒光光譜儀一種射線式分析儀器,是X射線分析儀器的一種常用形式。X射線熒光光譜儀能分析原子序數 12～92的所有元素，選擇性高，分析微量組分時受基體的影響小，在地質、采礦和冶金等部門應用很廣。X射線熒光光譜儀：儀器儀表、成份分析儀器、熒光光度計。?指標信息1、發射源是Rh靶X光管，最大電流125mA，電壓60kV，最大功率3kW。2、儀器在真空條件下工作，真空度<13pasca
rohs檢測儀分析原理是什么
ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀，分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類,波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF),波長色散光譜儀主要部件包括激發源、分光晶體和測角儀、探測器等，而能量色散光譜儀則只需激發源和探測器和相關電子與控制部件，相對簡單。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據Bragg定律