單晶體可用X射線衍射法檢測(cè)殘余應(yīng)力嗎？

時(shí)間：2025-08-14作者：北京華歐世紀(jì)光電技術(shù)有限公司瀏覽：25

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  X射線衍射法無(wú)法有效檢測(cè)單晶體殘余應(yīng)力，主要受限于其基本原理和單晶體結(jié)構(gòu)特性：多晶體衍射原理的限制?X射線衍射法基于布拉格方程（2dsinθ=nλ），依賴多晶體材料*量隨機(jī)取向的晶粒產(chǎn)生衍射峰。通過(guò)測(cè)量不同ψ角（衍射矢量與試樣法線的夾角）的晶面間距變化，計(jì)算宏觀殘余應(yīng)力。單晶體作為單一晶粒，缺乏多晶體的統(tǒng)計(jì)效應(yīng)，無(wú)法通過(guò)ψ角旋轉(zhuǎn)獲取足夠的衍射信息。單晶體結(jié)構(gòu)導(dǎo)致衍射信息缺失?單一取向問(wèn)題?：?jiǎn)尉?/p>