X光鍍層測(cè)厚儀在日常作業(yè)中都應(yīng)用了哪些原理？

時(shí)間：2022-06-12作者：蘇州實(shí)譜儀器有限公司瀏覽：300

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  詞條說明

• X光鍍層測(cè)厚儀是采用磁性和渦流兩種方法進(jìn)行測(cè)厚的

  ? ? ? X光鍍層測(cè)厚儀可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性涂層的厚度，以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層的厚度。本儀器具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn)，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量的檢測(cè)儀器。儀器廣泛運(yùn)用于工業(yè)生產(chǎn)測(cè)厚中，包含鋼板厚度、卷皮帶厚度等，當(dāng)然在實(shí)驗(yàn)室精細(xì)測(cè)量中也有運(yùn)用，包含航空航天、科研開發(fā)等范疇。? ? ? X光鍍層測(cè)

• 分享一些有關(guān)“X光鍍層測(cè)厚儀”的使用特點(diǎn)

  ? ? ? X光鍍層測(cè)厚儀已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)鍍層厚度有了明確要求。X射線是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，測(cè)量范圍較小，X射線法可測(cè)較薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。X射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后，采用X射線鍍層測(cè)厚儀 向微型、

• X光鍍層測(cè)厚儀詳細(xì)分析功能說明

  ? ? ?X光鍍層測(cè)厚儀綜合性能:鍍層分析、定性分析、定量分析、鍍液分析；? ? ?鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.? ? ?鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡(jiǎn)單的核對(duì)方式,*購(gòu)買標(biāo)準(zhǔn)藥液.? ? ?

• x射線鍍層測(cè)厚儀在檢測(cè)時(shí)具有什么原理？

  ? ? ?x射線鍍層測(cè)厚儀已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)鍍層厚度有了明確要求。使用x射線鍍層測(cè)厚儀的主要測(cè)量方法有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等等。這些方法中**種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多