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太陽輻射試驗箱/氙燈老化試驗箱/紅外燈老化試驗箱/紫外光加速老化試驗機
太陽輻射試驗箱/氙燈老化試驗箱/紅外燈老化試驗箱/紫外光加速老化試驗機 主要技術參數 溫度范圍 10℃~+70℃(無光照條件) 備注: 1、均在空箱條件下(注明除外),按GB/T5170測試 2、風冷型試驗箱系在室溫25℃時且通風良好條件下所測試數據;當35℃≥室溫>25℃時,可正常使用,但低溫范圍、降溫速率及熱負載能力會受一定影響。 3、水冷型試驗箱在水溫≤28℃、水壓在0.2MPa~0.6MP
ESS環境應力篩選試驗箱、快速溫度循環試驗箱 ESS環境應力篩選試驗箱、快速溫度循環試驗箱特點 1. 1. ESS系列允許加速產品溫度變化速率,通過產品置于高速氣流的環境; 2. 2. ESS系列環境試驗箱是專為環境應力篩選應用而設計的,可根據您的具體需要生產制造環境應力篩選試驗箱; 3. 3. 進口彩色觸摸屏控制器,溫度控制穩定,溫度過沖小,操作方便、簡單; 4. 4. 采用世界**的壓縮機+
當高低溫沖擊試驗箱長時間性應用時。設備有少水警報、過壓警報和負載警報。這種難題并不是由機器設備常見故障造成的。能夠根據校準等有關手動式實際操作來處理,因而,客戶無須擔憂過多。這類方式簡易*,它是不容易危害試驗的,殊不知,在應用設備時,個人工作室的右上方也會出現水珠,這個問題對檢測有非常大的危害,因此客戶應當需注意防范措施,那我們要如何處理呢? 高低溫沖擊試驗箱碰到少水狀況要如何處理1、開啟右上方
半導體芯片高低溫測試是jin屬、元器件、電子汽車配件、化學材料等材料行業經常能用到的測試,用于測試材料結構或復合材料。在經過高溫及較低溫的連續變化環境試驗我們可以檢測出半導體芯片忍受較端溫度變化的程度,得以在短時間內檢測到試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理損傷。在做半導體芯片高低溫測試需要特別注意,在使用的過程中不能輕易打開半導體芯片高低溫測試箱,主要原因如下:1.做半導體芯片高低溫測試時需要用
公司名: 廣東宏展科技有限公司
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