RPC多合一渦旋相位片與渦旋波片陣列的差異對比

時間：2022-11-25作者：深圳維爾克斯光電有限公司瀏覽：259

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  詞條說明

• 光纖光譜儀應(yīng)用在檢測薄膜厚度

  首先介紹一下光的干涉。由于光的波動特性，若干列光波在空間相遇時，互相疊加或互相抵消，引起光強(qiáng)的重新分布，在某些區(qū)域始終加強(qiáng)，在某些區(qū)域始終減弱，從而出現(xiàn)了明暗相間的條紋，這種現(xiàn)象稱為光的干涉。使用光纖光譜儀測薄膜厚度上圖為使用海洋光學(xué)光纖光譜儀，利用干涉效應(yīng)來測量薄膜厚度的原理圖。當(dāng)一束光以θ1從薄膜表面入射，其中一部分光直接反射，另一部分光則以θ2進(jìn)入薄膜發(fā)生折射，折射光經(jīng)膜層下表面反射后，再經(jīng)

• 多光束光斑分析儀在3D感應(yīng)系統(tǒng)，面部識別方面的應(yīng)用

  隨著新技術(shù)的發(fā)展對光斑分析儀提出了更高的要求，由于普通光束分析儀一般情況下一次只能測量一個光束，進(jìn)而滿足不了市場的需求。例如激光二極管的市場不斷擴(kuò)大，像手勢識別，自動駕駛，高性能激光器等許多新興應(yīng)用都是基于多光束并行發(fā)射的概念，并行發(fā)射的實現(xiàn)則需要由很多個激光器組成，并都從一個晶片發(fā)射出來。例如蘋果的新款手機(jī)iPhone10，其發(fā)射了約30,000個光束點(diǎn)并將其投影到用戶的臉部，而反射的信息被接收

• 用于DLIP系統(tǒng)的衍射光學(xué)元件

  近幾年，利用高功率短脈沖準(zhǔn)直激光干涉圖像系統(tǒng)(DLIP)來重塑表面的結(jié)構(gòu)，這一方面越來越受到人們的關(guān)注。由于使用Holoor的高功率衍射光學(xué)元件（DOE）應(yīng)用在DLIP系統(tǒng)中的客戶比較多，我們覺得非常有必要為該領(lǐng)域的客戶提供系統(tǒng)的技術(shù)支持，并推出了DLIP光學(xué)系統(tǒng)的Zemax OpticStudio設(shè)計文件，并共享給有需要的客戶。在Zemax軟件中，能夠模擬光束的基本性能和公差，還可以自定義的輸入

• 西格瑪光機(jī)李煥平老師親臨我司進(jìn)行產(chǎn)品培訓(xùn)，提升Optosigma產(chǎn)品銷售的專業(yè)性

  在剛結(jié)束的2025CIOE深圳光博會期間，深圳維爾克斯光電有限公司（）有幸邀請到全球領(lǐng)先的光學(xué)元件、光學(xué)精密機(jī)械零部件日本SIGMAKOKI西格瑪光機(jī)株式會社（https://）中國區(qū)負(fù)責(zé)人李煥平老師親臨我司，為我們帶來了豐富多彩又干貨滿滿的專業(yè)知識培訓(xùn)，極大地提高了我們公司業(yè)務(wù)人員的水平。（圖片中間為西格瑪光機(jī)中國區(qū)負(fù)責(zé)人李煥平）