Alluxa推出H-alpha系列天文學深截止濾波片656nm

時間：2023-08-14作者：深圳維爾克斯光電有限公司瀏覽：169

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  詞條說明

• Asphericon高性能光學涂層與鍍膜

  涂層是指將一種材料作為一個薄的、牢固的粘附層應用到基片材料（基材）上。在光學涂層中，電介質材料和金屬主要被用于這一方面。通過高性能光學涂層方法，其可以選擇性地使用靶材材料的固有特性來改變通過光學元件的光的特性，包括反射、傳輸和偏振的程度以及光的相位變化。光學涂層的方法便是光學鍍膜，在Asphericon鍍膜中，最常見的是：金屬光學鍍膜（反射鏡，如鋁、銀、金）、電介質涂層、抗反射涂層(AR)、分束器

• Xenics紅外相機的短波紅外相機(SWIR相機)

  Xenics紅外相機的短波紅外相機，也叫Xenics近紅外相機，從掃描系統上分為面陣紅外相機和線陣紅外相機，應用于機器視覺、研發、醫療、安全、過程控制和運輸等各方面上。Xenics短波紅外相機的探測器是基于InGaAs材料。Xenics?提供四種波長范圍內的各種類型的SWIR相機：500?至?1700 nm（可見光增強型InGaAs），900至1700nm（標準&nb

• 消散斑LSR中斑點對比度的計算

  激光的相干性在許多科學系統中被廣泛應用，但這種干涉過程在光學檢測器應用來說是一種缺點。在粗糙的光學表面上，例如電影屏幕，會出現局部的干擾，例如照相機或人眼可以觀察到顆粒狀的光斑圖案。這種光斑圖案降低了測量系統的分辨率，也導致投影圖像的噪音。圖1是斑點圖案和斑點中心測量的強度曲線，這種非均勻的強度分布對表現出局部飽和點的光檢測器造成了很大的限制，此外，這種圖案可能會干擾人眼。減少斑點會提高激光投影的

• 中紅外反射特征結合量子級聯激光器QCL用于檢測表面微量化學物質

  中紅外光譜學是一個有前景的方法用于非接觸式的檢測，Blockeng利用量子級聯激光器檢測表面微量化學的一種方式。因為大多數物質在光譜的中紅外部分具有強而獨特的吸收特征，我們的探測方法，主動式中紅外高光譜成像（HSI），包括在與高速相機相結合，捕捉目標表面的高光譜圖像（即超立方體反射光譜。對這些超立方體進行了光譜特征分析，展示出了用于化學檢測的優點。這項技術的一個非常重要的應用是探測微量爆炸物。文章