KRI 霍爾離子源應用于黑膜鍍制

時間：2024-01-10

作者：伯東企業(yè)（上海）有限公司

詞條
詞條說明
KRI 離子源應用于車載AR-HUD 鍍膜
?HUD?已經成為一種常見的汽車配置與功能,?通過它來直觀顯示速度、發(fā)動機轉速或其他懸停在駕駛員視野中的信息,?減少因低頭查看儀表盤而造成的分心,?提升駕駛.?目前量產的車用抬頭顯示?HUD?正在從風擋型?W-HUD?逐漸向增強現實型的?AR-HUD?發(fā)展：從單純的信息展示屏幕,
氦質譜檢漏儀真空鍍膜配氣面板檢漏
氦質譜檢漏儀 ASM 340?真空鍍膜配氣面板檢漏上海伯東某客戶生產高純度特種氣體不銹鋼減壓閥門, 接頭, 管件, 這些配件主要用于集成在真空鍍膜配氣面板, 實現工藝氣體的傳輸. 為了防止氣體外泄, 除了閥門, 接頭, 管件需要單檢漏外, 整個配氣面板也需要測試整體漏率, 使用上海伯東德國 Pfeiffer?氦質譜檢漏儀 ASM 340, 真空模式下, 漏率設置為 5.5x
振動樣品磁強計 VSM 磁滯回線測試應用|上海伯東代理英國進口Nano
振動樣品磁強計 VSM 磁滯回線測試應用上海伯東代理英國 NanoMagnetics 儀器振動樣品磁強計 VSM 主要用于測量塊狀, 粉末, 薄片, 單晶和液體各種材料的測量. 振動樣品磁強計 VSM 可完成磁滯回線, 起始磁化曲線, 退磁曲線及溫度特性曲線, IRM 和 DCD 等曲線的測量. 搭配不同的高低溫選件可進行磁化數據的溫度函數的測量, 測定居里溫度點等. 上海伯東代理英國 Nano
氦質譜檢漏儀 CVD 設備檢漏,滿足第三代半導體芯片量產
氦質譜檢漏儀?CVD 設備檢漏, 滿足*三代半導體芯片量產上海伯東某客戶是一家以先進化合物半導體光電器件相關產品衍生智造為主業(yè)的創(chuàng)新型科技公司, 核心產品是物聯(lián)網, 5G 通訊, 安防監(jiān)控等*三代半導體芯片. 芯片在生產過程中使用 CVD 設備做鍍膜處理, 在鍍膜過程中需要保持設備處于高真空狀態(tài), 這就要求腔體的泄漏率不能過 1E-10 mbrl l/s.CVD?設備檢漏要