手持式光譜儀主要作用是選擇

時間：2020-08-14

作者：昆山市周市牧亞凱機電設備商行

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昆山手持式光譜儀廠家排名
手持式光譜儀是一種基于XRF(X Ray Fluorescence,X射線熒光)光譜分析技術的光譜分析儀器，主要由X光管、探測器、CPU以及存儲器組成，其特點是具有高的分辨率和信噪比，形狀小巧，可快速檢測分析出產品屬性，以數字或者趨勢圖展示，是很方便的一種儀器儀表工具。手持式光譜儀的應用領域主要有：電力、石化、考古、金屬加工、壓力容器、廢舊物資回收、航空航天、地質勘探、礦山測繪、開采、礦石分選、礦
昆山x射線金屬鍍層測厚儀
1、原理：X射線照射樣品，經過鍍層界面，射線返回的信號發生突變，根據理論上同材質無限厚樣品反饋回強度的關系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測試很困難（信號分不開）。2、XRF鍍層測厚儀：俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等。功能：精密測量金屬電鍍層的厚度。應用范圍：測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測量范圍從22(Ti)到92(U)。
ROHS2.0新增4項鄰苯是依據哪個國際標準
ROHS2.0新增4項鄰苯是依據哪個**標準ROHS2.0新增4項鄰苯是依據哪個**標準？歐盟公報(OJ)發布RoHS2.0修訂指令(EU)2015/863，歐盟RoHS2.0較新終于塵埃落定，由原來的六項管控物質：鉛（Pb）、汞（Hg）、鎘（Cd）、六價鉻（Cr VI）、多溴聯苯（PBB）、多溴二苯醚（PBDE），變為十項管控物質，新增鄰苯二甲酸二（2-乙基己基）酯（DEHP）、鄰苯二甲酸甲苯基
昆山薄膜測厚儀廠家
在被測量的薄膜上垂直照射可視光，光的一部分在膜的表面反射，另一部分透進薄膜，然后在膜與底層之間的界面反射，薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光產生干涉現象。利用白光干涉測量法的原理，它用一個寬波段的光源來測得不同波長的反射數據，由于反射率n和k隨薄膜的不同而變化，根據這一特性進行曲線擬合從而求得膜厚。不同類型材料的相應參數通過不同的模型來描述，從而保證了不同類型材料膜厚測量的準確性。