詞條
詞條說明
在被測量的薄膜上垂直照射可視光,光的一部分在膜的表面反射,另一部分透進薄膜,然后在膜與底層之間的界面反射,薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光產生干涉現象。利用白光干涉測量法的原理,它用一個寬波段的光源來測得不同波長的反射數據,由于反射率n和k隨薄膜的不同而變化,根據這一特性進行曲線擬合從而求得膜厚。不同類型材料的相應參數通過不同的模型來描述,從而保證了不同類型材料膜厚測量的準確性。
人們常常把手持式光譜儀與火花直讀光譜儀混淆,實際上,兩個在原理上有本質的不同。手持式光譜儀工作原理:當一束帶有足夠能量的X射線打在樣品表面原子殼內層的電子上,這個X射線束是由手持式光譜儀內的X射線管產生的,這個X射線束從手持式光譜儀前底端射出。X射線束打在樣品表面的原子殼上,電子被激發后從原子殼內層軌道發生位移,這種位移的發生是由于從分析儀發出的X-射線束與在適當的軌道保持電子結合能發出的能量差;
根據現代光譜儀器的工作原理,光譜儀可以分為兩大類:經典光譜儀和新型光譜儀.經典光譜儀器是建立在空間色散原理上的儀器;新型光譜儀器是建立在調制原理上的儀器.經典光譜儀器都是狹縫光譜儀器.調制光譜儀是非空間分光的,它采用圓孔進光.根據色散組件的分光原理,光譜儀器可分為:棱鏡光譜儀,衍射光柵光譜儀和干涉光譜儀.光學多道分析儀OMA (Optical Multi-channel Analyzer)是近十幾
ICP-OES、ICP-MS、AAS傻傻分不清ICP-OES,即電感耦合等離子體(ICP)光譜儀;而ICP-MS,則以ICP方法離子質譜分析。有時,人們會叫它。“ICP質譜分析”。那他們和AAS有什么區別?如何選擇統計分析方法?針對有著ICP-OES有技術背景的人,ICP-MS它是一種以質譜儀器為探測器的等離子體(ICP),但質譜分析學者認為,質譜分析學者認為ICP-MS是一個以ICP質譜儀器為源
公司名: 昆山市周市牧亞凱機電設備商行
聯系人: 李經理
電 話:
手 機: 18550531168
微 信: 18550531168
地 址: 江蘇蘇州昆山市周市鎮青陽北路860號
郵 編:
網 址: skyray1.b2b168.com
公司名: 昆山市周市牧亞凱機電設備商行
聯系人: 李經理
手 機: 18550531168
電 話:
地 址: 江蘇蘇州昆山市周市鎮青陽北路860號
郵 編:
網 址: skyray1.b2b168.com