詞條
詞條說明
原理:X射線熒光X射線存在于電磁波譜中的一個特定區域,它由原子內部電子躍遷產生,其波長范圍在0.1-100?;能量大于100電子伏特.X射線熒光是一個原子或分子吸收了特定能量的光子后釋放出較低能量的光子的過程。X ray fluorescence物質受原級X射線或其他光子源照射,受激產生次級X射線的現象。它只包含特征X射線,沒有連續X射線。分別以原級、一級、二級X射線激發,可產生一級、二級、三級X
光譜儀又稱分光儀,廣泛為人知的為直讀光譜儀。以光電倍增管等光探測器測量譜線不同波長位置強度的裝置。它由一個入射狹縫,一個色散系統,一個成像系統和一個或多個出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區域,并在選定的波長上(或掃描某一波段)進行強度測定。分為單色儀和多色儀兩種。利用光譜儀可測量物體表面反射的光線。陽光中的七色光是肉眼能分的部分(可見光),但若通過光譜儀將陽光分解
多路光譜儀事實上也是大伙兒常說的PMT光譜儀,光柵尺光譜儀事實上也是大伙兒所說的CCD全譜光譜分析儀光譜儀,前邊一種的話容量大,增加安全通道相對艱辛,而且耗費高,CCD光譜儀屬于全譜光譜分析儀,身型小,可隨便移動,而且可以隨便增加譜線,幾乎不導致耗費,這也是二者簡單的不一樣。各自優點下面簡單也簡易的列舉了以下,供您參考:D全譜光譜分析儀光譜儀剖析;方便快捷增加基體和剖析元素種類。D
在被測量的薄膜上垂直照射可視光,光的一部分在膜的表面反射,另一部分透進薄膜,然后在膜與底層之間的界面反射,薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光產生干涉現象。利用白光干涉測量法的原理,它用一個寬波段的光源來測得不同波長的反射數據,由于反射率n和k隨薄膜的不同而變化,根據這一特性進行曲線擬合從而求得膜厚。不同類型材料的相應參數通過不同的模型來描述,從而保證了不同類型材料膜厚測量的準確性。
公司名: 昆山市周市牧亞凱機電設備商行
聯系人: 李經理
電 話:
手 機: 18550531168
微 信: 18550531168
地 址: 江蘇蘇州昆山市周市鎮青陽北路860號
郵 編:
網 址: skyray1.b2b168.com
公司名: 昆山市周市牧亞凱機電設備商行
聯系人: 李經理
手 機: 18550531168
電 話:
地 址: 江蘇蘇州昆山市周市鎮青陽北路860號
郵 編:
網 址: skyray1.b2b168.com