研磨與拋光材料的分類

時間：2021-10-29作者：似空科學儀器（上海）有限公司瀏覽：656

似空科學儀器（上海）有限公司專注于無損檢測設備,芯片開封機,影像測量儀,研磨拋光設備等

• 詞條

  詞條說明

• 電子電路失效分析

  1、介紹電子器件元器件技術的*進步和可靠性的提高確立了當代電子器件武器裝備的基本，元器件可靠性工作中的根本宗旨是提高元器件的可靠性。因而，務必高度重視和加速發展趨勢元器件的可靠性剖析工作中，根據剖析明確無效原理，找到損壞緣故，意見反饋給設計方案、生產制造和應用，一同科學研究和執行糾正措施，提高電子器件元器件的可靠性。電子器件元器件失效分析的效果是依靠各種各樣檢測剖析技術和分析程序確定電子器件元器

• 影像測量儀常見的故障有哪些?

  影像測量儀普遍的故障有什么？實際關心影像測量儀這類產品的情況下可以獲知，產品在應用條件層面是很普遍的一種情況，恰好是由于那樣，具體掌握這種產品的過程中，可以針對產品故障層面較強掌握很重要。那樣應用過程中產品一旦發生了不能夠一切正常運用的問題也可以采用積極地方式來解決，期待每一位好朋友都可以較強掌握這一部分的內容。1電腦藍屏變成很重要的故障應用影像測量儀的首要目地就是可以促使特定的數據信息較強的表明

• Vision Engineering 助您提高產能

  似空科學儀器（上海）有限公司作為Vision Engineering Ltd 的優秀代理商，在過去多年合作中，充分展示了對Vision Engineering產品服務理念的認可。似空科學儀器在積極迎接市場挑戰的同時也持續加強和Vision Engineering的緊密合作。通過不斷嘗試和經驗積累，在諸多行業領域推廣*jia人機工效學光學技術產品。特別是其將線下現場應用與線上自媒體推廣充分結合，與時

• 常見芯片開封技術及儀器簡介

  常見芯片開封技術及儀器簡介?Wayne Zhang（似空科學儀器（上海）有限公司）2022.10.11?? ? ? ?芯片失效分析（FA, Failure Analysis）的常見方法中，包含非破壞性分析（無損檢測，如超聲波、X-RAY分析）、破壞性物理分析（有損檢測，如芯片開封/開蓋、切片制樣）、I-V電氣特性分析、EMMI微光檢測等。