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膜厚儀檢測鍍層厚度的原理磁性測厚法是利用樣品與標準磁鐵之間的吸引力變化轉化為涂層厚度。該方法僅適用于對磁性能敏感的基體上的非磁性涂層,如鋼基體上的銅、鋅、錫等涂層。鋼件上的鎳涂層不能很好地測量結果。磁性測厚法的優點是為鋼基體上的非磁性涂層提供了一種快速的測量方法,其精度可達85%-90%。測量樣品的粗糙度對測量結果有影響。如果被測部分的基體非常薄,例如,如果樣品的厚度小于0.25毫米,會有一個很大
? RoHS檢測儀在使用時,周邊環境影響也很重要,所以必須注意周邊環境。? 大功率電機,發電機,變壓器,烤箱,音視頻設備輸出輸入端口,高壓機等都有可能造成磁場或者電場的干擾,溫度的變化也可能造成峰譜漂移導致測試數據出錯,在濕度過大的環境下,儀器長期工作可能造成高壓異常放電擊穿光管的嚴重后果。建議客戶盡可能遠離干擾源,保證溫度的恒定(15~25℃之間)和濕度的平衡(相對濕度小于7
膜厚儀可以測鍍層厚度嗎?目前,儀器測量厚度的方法有很多。例如,磁性法、渦流法、β射線反向散射法、熒光X射線法等原理采用探頭或頭等測厚儀直接測量鍍層。磁性法和渦流法是常用的便攜式膜厚儀。采用磁性法的膜厚計可以快速、準確地檢測磁性金屬底座上各種非磁涂層的厚度。例如,可以用Fe基探頭測量鋼材、鍍鉻層、鍍銅層、鍍鋅層、油漆層、粉末噴涂層等。在非磁性金屬基礎上涂層的各種非導電性涂層厚度,如鋁、銅、黃銅、不銹
? ? ?RoHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀,其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類,波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF),波長色散光譜儀主要部件包括激發源、分光晶體和測角儀、探測器等,而能量色散光譜儀則只需激發源和探測器和相關電子與控制部件,相對簡單。? ? &nbs
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