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XU-100光譜測厚儀采用下照式C型腔體設計,搭配微聚焦X射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統(tǒng),以及高敏變焦測距裝置,對各種大小異形件都可快速、精準、無損測量。 檢測各種金屬鍍層,檢出限可達0.005μm,較小測量面積0.2mm2,凹槽深度測量范圍可達0-30mm,是一款測量鍍層厚度*、適用性強的機型。接下來和一六儀器鍍層測厚品牌了解為什么選擇XU-100鍍層測厚儀?選擇XU-100鍍層測厚儀的原
熒光光譜儀分析對象主要有各種磁性材料、鈦鎳記憶合金、混合稀土分量、貴金屬飾品和合金等,以及各種形態(tài)樣品的無標半定量分析,對于均勻的顆粒度較小的粉末或合金,結果接近于定量分析的準確度。 可用于一般樣品(液體、固體)中的穩(wěn)態(tài)熒光測量和瞬態(tài)熒光測量,如高分子和**分子自然熒光的研究,液體中大分子分子運動的研究,固體高分子取向的研究,高聚物光降解和光穩(wěn)定性的研究,光敏化過程的研究。熒光光譜儀(XRF)由激
一六儀器與客戶共創(chuàng)**,與員工共同發(fā)展,秉持“成就客戶,創(chuàng)新創(chuàng)業(yè),精準求實,誠信負責”的**觀,為國內(nèi)外客戶提供專業(yè)的技術解決方案。一六小編說說膜厚檢測儀的磁感應原理。膜厚檢測儀分為手持式和臺式二種,手持式又有磁感應鍍層測厚儀,電渦流鍍層測厚儀,熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應原理時,利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其
光譜分析技術是目前應用非常廣泛的分析檢測手段,在各領域都有其身影,冶金、地質、機械制造、石油化工、農(nóng)業(yè)、生物、醫(yī)藥、輕工業(yè)、環(huán)境保護、空間物理學、物理化學等等。在冶金和機械制造等工業(yè)領域,光譜分析基本承擔了大量日常分析任務,其歸納起來可分為以下幾個方面:1.爐前化驗檢測配合冶煉工程的熔煉過程,測定爐中鐵水或合金中各元素的含量是否符合設計要求。2.質量分析配合質檢部門,對在生產(chǎn)、試制和使用過程中
公司名: 江蘇一六儀器有限公司
聯(lián)系人: 董思琪
電 話:
手 機: 18915487005
微 信: 18915487005
地 址: 江蘇蘇州昆山市成功路168號
郵 編:
網(wǎng) 址: elite1617.b2b168.com
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