ELECTRONICA手動(dòng)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)-Saphire

時(shí)間：2022-08-17作者：天津瑞利光電科技有限公司瀏覽：99

天津瑞利光電科技有限公司專注于激光器,光學(xué)檢測(cè)設(shè)備,精密定位及光學(xué)平臺(tái)等

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• 德國ProCon 工業(yè)CT系統(tǒng)

  天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢(shì)經(jīng)銷德國ProCon 工業(yè)CT系統(tǒng)CT-ALPHA系統(tǒng)品牌介紹：ProCon X-Ray GmbH自2004年一直在開發(fā)用于工業(yè)應(yīng)用和大學(xué)研究目的的X射線檢查設(shè)備。我們的系統(tǒng)具有高分辨率的Focus X射線技術(shù)，并且基于我們多年開發(fā)高質(zhì)量解決方案的經(jīng)驗(yàn)水平滿足客戶要求。使用我們的系統(tǒng)，在用戶友好的可操作性方面具有重要的**。因此，我們?cè)诳蛻艄ぷ髁鞒讨袑?shí)現(xiàn)了CT系統(tǒng)的高效

• KONICA MINOLTA色度計(jì)-CL-200A

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• 德國Tippkemper光導(dǎo)Type AL

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• 美國THORLABS離軸拋物面反射鏡MPD00M9-P01

  天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢(shì)經(jīng)銷美國THORLABS離軸拋物面反射鏡MPD00M9-P01產(chǎn)品型號(hào)：MPD00M9-P01產(chǎn)品介紹?Thorlabs的離軸拋物面(OAP)反射鏡的反射表面是母拋物面的一部分。它們可以無色差地聚焦準(zhǔn)直光束或準(zhǔn)直發(fā)散光源。它們的離軸設(shè)計(jì)能夠在空間上將焦點(diǎn)從光路其他部分中分離出來。其反射設(shè)計(jì)消除了透射光學(xué)元件會(huì)引入的相位延遲和吸收損耗，并且十分適合用于飛秒脈沖激