X熒光光譜儀在區(qū)域地質(zhì)勘察中應(yīng)用

時(shí)間：2022-11-01作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：171

江蘇一六儀器有限公司專(zhuān)注于能量色散X熒光光譜儀,標(biāo)準(zhǔn)片,光譜儀測(cè)厚儀等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

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  X射線(xiàn)測(cè)厚儀可以用來(lái)探測(cè)磁性金屬表面覆蓋的非磁性涂層厚度，測(cè)量準(zhǔn)度很高，使用靈活。接下來(lái)和一六儀器一起了解XRF鍍層測(cè)厚儀測(cè)試步驟及注意事項(xiàng)。XRF鍍層測(cè)厚儀測(cè)試步驟：1.儀器及附件均處開(kāi)機(jī)狀態(tài)(電腦，顯示器);2.在程序庫(kù)中選中與產(chǎn)品對(duì)應(yīng)的曲線(xiàn)(產(chǎn)品需與曲線(xiàn)一致);3.打開(kāi)儀器前蓋，臺(tái)面自動(dòng)伸出;4.將樣品放入儀器臺(tái)面，測(cè)量大致位置對(duì)準(zhǔn)儀器紅外對(duì)焦點(diǎn);5.關(guān)閉儀器前蓋，儀器臺(tái)面自動(dòng)歸位;6.在顯

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