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原子吸收光譜儀由以下四部分組成1.光源系統(tǒng):空心陰極燈2.原子化系統(tǒng):火焰原子化器;石墨爐原子化器或氫化物發(fā)生器。3.分光系統(tǒng):單色器4.檢測系統(tǒng):光電倍增管等一、光源系統(tǒng):原子吸收光源應(yīng)滿足以下條件1.能輻射出半寬度比吸收線半寬度還窄的譜線,并且**線的中心頻率應(yīng)與吸收線的中心頻率相同。2.輻射的強(qiáng)度應(yīng)足夠大。3.輻射光的強(qiáng)度要穩(wěn)定,且背景小。原子化器是將樣品中的待測組份轉(zhuǎn)化為基態(tài)原子的裝置。二
精準(zhǔn)測量新選擇:X熒光測厚儀的技術(shù)優(yōu)勢與應(yīng)用前景厚度測量在工業(yè)生產(chǎn)中占據(jù)著重要地位,而X熒光測厚儀憑借其*特的技術(shù)特點(diǎn),正在成為眾多行業(yè)的新寵。這種非接觸式測量設(shè)備通過X射線熒光原理工作,能夠在不損傷樣品表面的情況下,快速準(zhǔn)確地獲取鍍層或涂層的厚度數(shù)據(jù)。X熒光測厚儀的**優(yōu)勢在于其廣泛的材料適應(yīng)性。無論是金屬鍍層還是非金屬涂層,從金、銀、銅等貴金屬到鋅、鎳等工業(yè)常用鍍層,甚至是塑料、油漆等**涂
鍍層膜厚檢測的關(guān)鍵技術(shù)與應(yīng)用 在工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量檢測領(lǐng)域,鍍層膜厚的精確測量直接影響產(chǎn)品的性能和壽命。無錫鍍層膜厚檢測儀憑借高精度和穩(wěn)定性,成為許多行業(yè)的可以選擇設(shè)備。 鍍層膜厚檢測的**在于無損測量技術(shù)。常見的檢測方法包括X射線熒光法、渦流法和超聲波法。X射線熒光法適用于金屬鍍層和非金屬基材的組合,測量精度高,但設(shè)備成本較高。渦流法對導(dǎo)電鍍層有較好的適應(yīng)性,尤其適合測量鋁、銅等材料的膜厚。超聲波法則適
工業(yè)測量的精準(zhǔn)之眼:X射線測厚儀探秘在鋼鐵、鋁材、塑料薄膜等連續(xù)生產(chǎn)線上,有一種設(shè)備如同鷹眼般精準(zhǔn),能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測材料的厚度變化。這就是X射線測厚儀,現(xiàn)代工業(yè)質(zhì)量控制的重要工具。它利用X射線穿透物質(zhì)時(shí)的衰減特性,將厚度信息轉(zhuǎn)化為電信號(hào),實(shí)現(xiàn)非接觸式測量。X射線測厚儀的**優(yōu)勢在于其測量精度。**的設(shè)備可以達(dá)到微米級(jí)精度,完全滿足**制造業(yè)的嚴(yán)苛要求。相比傳統(tǒng)的接觸式測厚方法,它不會(huì)對材料表面造成任
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
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ROHS測試儀器 ROHS10項(xiàng)檢測儀 可以在較短的時(shí)間內(nèi)對樣品進(jìn)行分析

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