XRF檢測(cè)儀簡(jiǎn)介

時(shí)間：2018-10-23作者：蘇州百測(cè)檢測(cè)科技有限公司瀏覽：691

蘇州百測(cè)檢測(cè)科技有限公司專(zhuān)注于x射線熒光光譜儀,手持式光譜儀,ROHS檢測(cè)儀器,x射線鍍層測(cè)厚儀,直讀光譜儀,XRF檢測(cè)儀器,手持式合金分析儀,等離子體**光譜儀,RHS2.0測(cè)試儀,手持式X熒光光譜儀等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• X射線測(cè)厚儀校正方法

  X射線測(cè)厚儀是檢測(cè)電鍍層厚度的儀器，通常x射線測(cè)厚儀被廣泛應(yīng)用于電鍍廠，五金廠，汽車(chē)零部件，PCB加工，電子連接件等行業(yè)。X射線測(cè)厚儀又叫膜厚儀，測(cè)膜儀，鍍層測(cè)試儀，x射線鍍層測(cè)厚儀，金屬測(cè)厚儀，xrf測(cè)厚儀，x-ray測(cè)厚儀，x熒光光譜鍍層測(cè)厚儀等。那么如何校正？ 使用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行校正是x射線測(cè)厚儀的正確方法，標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片，專(zhuān)業(yè)用于X射線測(cè)厚儀（膜厚儀）在測(cè)金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校

• 直讀光譜儀技術(shù)優(yōu)勢(shì)

  直讀光譜儀OES8000s廣泛應(yīng)用于鋼鐵及有色金屬產(chǎn)品元素分析，快速、精確、穩(wěn)定、可靠測(cè)試幾十種元素，滿足工業(yè)研發(fā)、工藝控制、進(jìn)料檢驗(yàn)、產(chǎn)品分選多方面檢驗(yàn)需求，是生產(chǎn)優(yōu)質(zhì)金屬產(chǎn)品的*設(shè)備。 具有以下技術(shù)優(yōu)勢(shì)： 全譜檢測(cè)全面測(cè)試各種金屬和元素 基于CCD檢測(cè)器全譜測(cè)試技術(shù)，全面測(cè)試各種金屬中元素的譜線，方便實(shí)現(xiàn)多基體、多元素的測(cè)試。 配置和補(bǔ)充測(cè)試基體、通道、分析程序較為方便，方便交貨后在客

• 手持式光譜分析儀

  手持式光譜合金分析儀explorer系列產(chǎn)品的性能良好，精度高，接近實(shí)驗(yàn)室級(jí)的分析水平，可直觀顯示合良好號(hào)和元素百分比含量（某些元素可顯示到小數(shù)點(diǎn)后三位）及ppm含量。開(kāi)機(jī)啟動(dòng)—瞄準(zhǔn)測(cè)試—察看結(jié)果”，整個(gè)分析過(guò)程僅需數(shù)秒便可完成，合良好號(hào)鑒別只需1~2秒鐘，操作簡(jiǎn)單，即使非技術(shù)人員也可輕松掌握。采用堅(jiān)韌的LEXAN.塑料密封外殼，重量輕，堅(jiān)固耐用；密封式一體化設(shè)計(jì)，防塵、防水、防腐蝕，可在多種條

• 便攜式光譜儀性能

  便攜式光譜分析儀采用小功率端窗一體化微型光管、大面積鈹窗SDD硅漂移探測(cè)器（世界上較好的探測(cè)器）及微型數(shù)字信號(hào)多道處理器三大**技術(shù)的引入，大幅降低測(cè)試時(shí)間、提高檢測(cè)精度、減少測(cè)試誤差，使手持式儀器具有與臺(tái)式相近的測(cè)試性能。體積很小，便攜、方便野外工作。隨時(shí)隨地，隨心所欲的現(xiàn)場(chǎng)分析和原位分析。 無(wú)損檢測(cè) 整個(gè)檢測(cè)過(guò)程被測(cè)樣品無(wú)任何損壞 快速檢測(cè) 儀器既可手持1-2秒對(duì)樣品進(jìn)行快速測(cè)試，也能使用座