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可控硅壞的原因:1、電壓擊穿可控硅因不能承受電壓而損壞,其芯片中有一個光潔的小孔,有時需用擴大鏡才能看見。其原因可能是管子本身耐壓下降或被電路斷開時產生的高電壓擊穿。2、電流損壞電流損壞的痕跡特征是芯片被燒成一個凹坑,且粗糙,其位置在遠離控制極上。3、電流上升率損壞其痕跡與電流損壞相同,而其位置在控制極附近或就在控制極上。4、邊緣損壞他發生在芯片外圓倒角處,有細小光潔小孔。用放大鏡可看到倒角面上有
在現代電力電子系統中,可控硅作為一種關鍵的大功率半導體器件,憑借其獨特的性能與廣泛的應用場景,成為行業技術發展的重要推動力。英飛凌可控硅作為國際知名品牌,以其卓越的工作特性、穩定的性能表現以及廣泛的產品系列,贏得了市場的廣泛認可。英飛凌可控硅采用經典的四層三PN結結構,通過門極電壓的精確控制,實現對陽極與陰極之間導通時間和電流大小的靈活調節。這種設計不僅賦予了器件高效的電能控制能力,還使其能夠適應
IXYS可控硅模塊的選擇需要考慮多個因素,包括模塊的電壓、電流容量、觸發電流和工作溫度等。以下是對IXYS可控硅模塊選擇的一些基本步驟和注意事項的簡要概述:1. **確定應用需求**:首先,你需要明確你的應用場景需要什么樣的電壓和電流。IXYS可控硅模塊的電壓范圍從5V到400V不等,電流范圍從幾毫安到幾百安培。確保你的模塊能夠滿足你的實際需求。2. **考慮負載特性**:可控硅模塊的負載特性對其
在現代工業發展的浪潮中,電力電子技術作為關鍵支撐技術,正日益展現出其重要性。富士IGBT模塊作為電力電子領域的核心元器件,憑借卓越的性能和可靠的品質,為各行業的技術革新和設備升級提供了強有力的支持。富士IGBT模塊的技術特點富士IGBT模塊采用先進的半導體制造工藝,具有優異的電氣特性。其獨特的內部結構設計使得模塊在導通時具有極低的飽和壓降,大大降低了功率損耗。同時,模塊采用優化的開關特性設計,實現
公司名: 昆山奇沃電子有限公司
聯系人: 林志勝
電 話: 0512-50111678
手 機: 18962647678
微 信: 18962647678
地 址: 江蘇蘇州昆山市昆山市玉山鎮富士康路932號
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