產品材料成分檢測包含哪些項目

時間：2023-11-08

作者：成都國威冠準檢測技術有限公司

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成都透射電鏡檢測
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡稱TEM),可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結構，這些結構稱為亞顯微結構或*微結構。要想看清這些結構，就必須選擇波長*短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡，電子束的波長要比可見光和紫外光短得多，并且電子束的波長與發射電子束的電壓平方根成反比，也
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? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?X射線熒光光譜法大多數用來測定金屬元素，也是一種常見的金屬材料成分測定方法。其測試原理是：基態的原子在沒有被激發狀態下會處于低能態，而一旦被一定頻率的輻射線激發就會變成高能態，高能狀態下會發射
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