表面微觀形貌的測(cè)量與評(píng)定

時(shí)間：2019-12-23作者：深圳市啟威測(cè)標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司瀏覽：401

深圳市啟威測(cè)標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司專注于表面微觀形貌SEM,材料斷口觀察SEM,表面成分分析EDS,微量污染物成分分析,涂鍍層厚度測(cè)試,表面粗糙度量測(cè)等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 聚焦離子束（FIB）在成分分析中的應(yīng)用

  焦離子束工作原理：? 聚焦離子束顯微鏡(FIB)的利用鎵(Ga)金屬作為離子源，再加上負(fù)電場(chǎng)?(Extractor)?牽引**細(xì)小的鎵原子，而導(dǎo)出鎵離子束再以電透鏡聚焦，經(jīng)過(guò)一連串可變孔徑光闌，決定離子束的大小，再經(jīng)過(guò)二次聚焦以很小的束斑轟擊樣品表面，利用物理碰撞來(lái)進(jìn)行特定圖案的加工，一般單粒子束的FIB(Single Beam FIB)，可以提供材料切割、沉積金屬、

• 表面微觀形貌的測(cè)量與評(píng)定

  表面形貌評(píng)定的**在于對(duì)特征信號(hào)無(wú)失真的提取和對(duì)使用性能的量化評(píng)定，國(guó)內(nèi)外學(xué)者在這一方面做了?大量工作，提出了許多分離與重構(gòu)方法。隨著當(dāng)今微機(jī)處理技術(shù)、集成電路技術(shù)、機(jī)電一體化技術(shù)等的發(fā)展。出現(xiàn)了用分形法、Motif法、功能參數(shù)集法、時(shí)間序列技術(shù)分析法、小二乘多項(xiàng)式擬合法、濾波法等各種評(píng)定理論與方法，**了顯著進(jìn)展。表面是由粗糙度，波紋度和表面形狀誤差3個(gè)部分構(gòu)成的。隨著現(xiàn)代測(cè)量精度的不

• 涂鍍層厚度測(cè)試的應(yīng)用領(lǐng)域

  涂鍍層厚度測(cè)試應(yīng)用領(lǐng)域電子、汽車、航空、材料、金屬、陶瓷品等各個(gè)制造領(lǐng)域。涂/鍍層厚度測(cè)量相關(guān)參考標(biāo)準(zhǔn)GB/T?6462-2005?金屬和氧化物覆蓋層厚度測(cè)量顯微鏡法GB/T16921-2005?金屬覆蓋層?覆蓋層厚度測(cè)量 X射線光譜法ASTM?B487-1985(2007)?用橫斷面顯微觀察法測(cè)定金屬及氧化層試驗(yàn)方法ASTM?

• 材料斷口觀察SEM分析檢測(cè)

  用肉眼（目視）或在不大于10倍的放大鏡下，檢驗(yàn)金屬的宏觀組織和缺陷稱為組織檢驗(yàn)。在實(shí)驗(yàn)室中，常用的檢驗(yàn)方法有酸蝕低倍檢驗(yàn)、斷口檢驗(yàn)、塔形車削發(fā)紋檢驗(yàn)和硫印試驗(yàn)等。酸蝕低倍檢驗(yàn)，這是一種將制備好的試樣，經(jīng)過(guò)酸液腐蝕以后，來(lái)顯示試樣的宏觀組織的檢驗(yàn)。而根據(jù)酸液溫度的不同，又可以分為熱酸蝕和冷酸蝕兩種檢驗(yàn)。按GB/T1979評(píng)級(jí)圖對(duì)照低倍組織缺陷圖來(lái)進(jìn)行評(píng)級(jí)。，通過(guò)放大鏡，在酸蝕后的試片上可以發(fā)現(xiàn)各種皮