X射線熒光光譜儀的主要用途

時間：2022-05-12

作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司

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詞條
詞條說明
X熒光光譜鍍層測厚儀
X熒光光譜鍍層測厚儀既滿足原有微小和復雜形態(tài)樣品的膜厚檢測功能,又可滿足有害元素檢測及輕元素成分分析,被廣泛應用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量。X熒光光譜鍍層測厚儀配置01 獨立的X/Y/Z軸控制系統(tǒng)02 微焦斑X光管?03 可變高壓電源04 防撞板外加防撞激光保護檢測器對儀器進行雙重安全保護05 Fast-SDD探測器06 雙激光定位裝置07 標配可自動切換的準直
手持XRF分析儀
手持XRF分析儀是元素快速分析的好幫手，滿足合金，礦石，土壤重金屬，rohs，鍍層等各個領域的便攜測試分析，連接便攜藍牙打印設備，可以現(xiàn)場出具測試報告。手持XRF分析儀光譜儀應用領域優(yōu)勢超大樣品測試當樣品體積太大，且不能切割取樣時，普通臺式儀器無法對其進行RoHS等有害元素的有效測試，此時手持XRF分析儀則可大顯神通，直接對其表面進行測試，使用更方便快捷，大大提高了檢測效率。玩具樣品測試玩其樣品多
X射線熒光光譜儀的儀器類別及特點
X射線熒光光譜儀一種射線式分析儀器,是X射線分析儀器的一種常用形式。X射線熒光光譜儀能分析原子序數(shù) 12～92的所有元素，選擇性高，分析微量組分時受基體的影響小，在地質、采礦和冶金等部門應用很廣。X射線熒光光譜儀：儀器儀表、成份分析儀器、熒光光度計。?指標信息1、發(fā)射源是Rh靶X光管，最大電流125mA，電壓60kV，最大功率3kW。2、儀器在真空條件下工作，真空度<13pasca
X射線熒光光譜儀是什么？
X射線熒光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線熒光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調查和研究，地球化學，法醫(yī)學，考古學和藝術品，例如油畫和壁畫。一種射線式