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8-14um,基于a-Si非晶硅材料探測器的遠紅外相機Xenics紅外相機的LWIR長波紅外相機,基于a-Si非晶硅材料探測器的長波紅外非制冷相機,包括小型、高性能長波紅外非制冷相機(遠紅外相機)Gobi+ 640系列和緊湊型高分辨率工業熱成像應用的Ceres T系列。a-Si探測器材料是一種新興的半導體薄膜材料,是一種直接能帶半導體,一般除了應用在半導體、太陽能電池上,也可用作自計溫度計照相機(
平頂光束整形器是一種衍射平面光學元件,它接收單模高斯光束作為輸入,并輸出一個具有可控形狀(正方形、矩形、線形或圓形圖像)的平面光強光斑。平頂光束整形器能夠切割薄膜,減少熱影響區和提高效率,如OLED薄膜。隨著有機發光二極管(OLED)屏幕需求的不斷增長,人們要求更高的功率和更好的加工質量,便開始尋找更好的激光薄膜切割解決方案。制造商目前面臨的問題之一是減少切口邊緣的熱影響區(HAZ)。為緩解這一問
optodiode探測器常見問題及解決方法如下:美國optodiode探測器響應時間太長(時間常數太慢),第一步是檢查源強度。如果光源的強度太高(超過1mW/cm2),探測器材料將加熱到改變探測器特性的點。這種變化迫使探測器比最初進行測量所需的時間更長,因為基本上探測器被重新敏化,這改變了探測器的光導特性。對探測器性能的影響程度取決于加熱/變化區域與整個探測器表面積的比率。optodiode探測器
在當今競爭異常激烈的商業環境中,公司必須不斷維護和升級其技術能力,以保持競爭優勢。 在過去的一年中,Andover公司購置了幾臺新的頂級濾光片設備,并對一個重要的專有工具進行了技術改進,努力保持行業領先地位。Andover增加了新的真空鍍膜室、機械臂功能、光學比較儀和白光干涉儀。這些技術升級將使Andover能夠滿足更高難度的要求并提高產量,同時使Andover員工的工作更加輕松。新的真空鍍膜室:
公司名: 深圳維爾克斯光電有限公司
聯系人: 劉先生
電 話: 0755-84870203
手 機: 18926463275
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