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電子顯微鏡Electronic Microscopes簡稱電鏡,用高能電子束以非常精細的尺度研究物體,已成為現代科學技術中不可缺少的重要工具。為確保電子顯微鏡超高質量成像,實現電子顯微鏡隔振,電子顯微鏡防震臺是必不可少的。傳統的隔振方法主要是建造專門的隔離地板,用特殊的混凝土塊改變地基,用混凝土塊進行被動減震。這種方法的缺點相當明顯,不可能改變工具的位置、機器停機時間長、沒有靈活性、沒有可配置性、
在半導體行業中,極小的表面缺陷和顆粒是一個主要問題,這會降低產量并耗費生產的時間和成本。因此,檢測半導體晶圓表面的缺陷和污染至關重要,這是在半導體計量行業許多客戶面臨的挑戰。晶圓表面檢測的快速且具有成本效益的方法之一是使用激光線照明和暗場/明場顯微鏡來檢測缺陷,通常在深紫外(DUV)波長下檢測100nm以下的缺陷。在這種方法中,Holoor指出當線沿徑向掃描時,晶圓旋轉,產生晶圓的大面積采樣,從而
本文為Stellarnet便攜式近紅外分析儀的售前問答,解釋了Stellarnet近紅外分析儀是如何工作的,工作原理,解析結果精準嗎等問題,還說明了Stellarnet產品有哪些優勢等等。?StellarNet分析儀中的技術比競爭對手好還是差?StellarCASE-NIR?TM?分析儀使用具有512像素檢測器的近紅外二極管陣列技術。大多數具有同類競爭品的二極管陣列分
Serstech手持式拉曼光譜儀的標準型號有:IND-1001-B,Arx001和Arx002和,對應的產品分別是Indicator 100,Arx,Arx+。Serstech Arx +Serstech Arx +是在Serstech Arx基礎上的專業版,專業用于醫藥行業。首先他簡化了進貨檢驗中檢測物質的工作流程,配有條形碼讀取器可以掃描條形碼或者QR碼,檢測結果綁定對應的條形碼,符合聯邦法規
公司名: 深圳維爾克斯光電有限公司
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