伊瓦特手持X熒光光譜儀為土壤安全撐起一把傘

時間：2024-01-03

作者：無錫創想分析儀器有限公司杭州分公司

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伊瓦特手持光譜分析儀可用于哪些行業？
伊瓦特手持式光譜分析儀的很多設計師為了惡劣的環境條件設計的，可提供較好的檢測極限和異常快速的測量時間，以確保在現場做出更好的檢測。伊瓦特手持光譜儀可用于分析幾乎所有類型材料中的每一種感興趣的元素，包括工業金屬和合金、貴金屬、涂料、汽車催化劑、土壤、礦石、陶瓷和塑料。?1、廢金屬回收伊瓦特手持光譜儀可以為廢舊金屬回收行業提供更快的分類和更準確的結果。常規廢料的測試時間幾乎是瞬間的，而要獲
手持X熒光光譜儀可以分析哪些涂鍍層？
手持X熒光光譜儀可以用于分析多種涂鍍層，具體包括：貴金屬、珠寶首飾：黃金分析，貴金屬合金分析，珠寶鍍層分析，鉑金上的銠鍍層分析。鋼鐵、五金電鍍：鋼材鍍鋅/鉻、鋁材鍍鋯/鈦、哈式合金鍍層厚度測定。裝飾材料：裝飾涂層分析。電子電器：PCB印刷電路板，金手指及連接器上Au/Ni/Cu、Au/Pd/Ni/Cu厚度分析、可焊性能分析如Ag/Cu/Epoxy，RoHS指令合規檢查。新能源/鋰電：電池薄膜吸收層
臺式X熒光光譜儀測試時粉末樣品誤差的幾個來源分析
臺式X熒光光譜儀分析法之一的粉末樣品不存在固體樣品的主要缺點（不能用添加劑）。在各種應用中，粉末方法通常既方便又迅速。接下來我們了解下幾個臺式X熒光光譜儀測試時粉末樣品誤差來源。粉末樣品誤差主要來源：（1）粒度效應粉末樣品粒度效應是指被測量樣品中的分析元素的熒光強度變化和樣品的粒度變化有關。一般來說，被分析樣品的粒度越小，熒光強度越高，輕元素尤甚。原子序數越小，對粒度越敏感；同一元素粒度越小，
臺式x熒光光譜儀可以測金屬鍍層嗎？
在工業生產和質量控制中，準確測量金屬鍍層的厚度和成分至關重要。臺式X熒光光譜儀作為一種高效、精確的分析工具，能夠滿足這一需求，幫助企業和研究人員實現對金屬鍍層的無損檢測。今天創想儀器小編給大家介紹下臺式X熒光光譜儀在金屬鍍層測量中的應用及其優勢。臺式X熒光光譜儀的工作原理臺式X熒光光譜儀利用X射線照射待測樣品，激發樣品中的原子產生熒光。每種元素都有其*特的熒光光譜，類似于指紋，因此可以通過分析熒光