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SEM掃描電鏡分析的作用是什么? 材料領域中掃描電鏡分析技術的作用非常重要,因此被廣泛應用于各種材料的形態結構、界面狀況、損傷機制及材料性能預測等方面的研究。 掃描電鏡可以究晶體缺陷產生過程,可觀察金屬材料內部原子集結和邊界移動的方式,還可以檢查晶體在表面機械加工中引起的損傷和輻射損傷等。 編輯:Amanda王莉
優爾鴻信,基于產品生命周期,一站式實驗室檢測技術服務。面向七大行業:電子電氣汽車材料零部件環境有害物質食品安全家用電氣醫療器械設備計量校準尺寸測量
如何根據電子電氣產品的質量和結構特點確定沖擊試驗的脈沖波形和峰值加速度?
質量因素對脈沖波形和峰值加速度的影響對于質量較小的電子電氣產品,如小型手持電子設備(手機、智能手表等),其慣性相對較小。在實際使用中,可能遭遇的沖擊多是由于意外掉落或與其他物體的碰撞。這些沖擊通常具有較高的頻率和較短的作用時間。因此,在沖擊試驗中,半正弦波脈沖波形比較合適,因為它能夠較好地模擬這種瞬間碰撞的情況。對于峰值加速度,由于產品質量小,其在受到沖擊時能夠承受相對較高的加速度。一般來說,小型
光譜分析法原子發射光譜法(AES):原理是通過激發樣品中的原子,使其發射出具有特征波長的光。對于不銹鋼,將樣品在高溫等離子體等激發源下激發,不同元素的原子會發射出特定波長的光,如鉻原子發射出特定波長的光用于其含量的測定。檢測時,把不銹鋼樣品制成合適的形狀(如塊狀或屑狀),放入光譜儀的激發源中,儀器會記錄發射光的波長和強度,通過與已知標準樣品的光譜對比,確定各種化學成分的含量。這種方法可同時檢測多種
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