電氣電子組件的可靠性測(cè)試

時(shí)間：2023-07-20作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：76

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說明

• P100溫濕度程序控制器的優(yōu)勢(shì)

  1.通訊與聯(lián)機(jī)控制·提供以太網(wǎng)來遠(yuǎn)程監(jiān)控和控制試驗(yàn)箱，隨時(shí)隨地可以用PC或PDA通過網(wǎng)絡(luò)監(jiān)測(cè)試驗(yàn)進(jìn)度。報(bào)警系統(tǒng)聯(lián)網(wǎng)后，可以通過郵件或短信通知您設(shè)備問題，以方便快速反應(yīng)跟進(jìn)，節(jié)省您寶貴的時(shí)間。一鍵操作完成試驗(yàn)數(shù)據(jù)自動(dòng)通過電子郵件發(fā)送。2.數(shù)據(jù)記錄可記錄試驗(yàn)數(shù)據(jù)，包括文件名、批次、編號(hào)、操作者及數(shù)字量信號(hào)等，方便以后的查找與核對(duì)。并可提供多達(dá)30個(gè)操作者ID，并可以分配不同的操作權(quán)限。自動(dòng)化網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)備

• 非飽和加速壽命試驗(yàn)箱

  非飽和加速壽命試驗(yàn)箱（又名PCT加速老化試驗(yàn)機(jī)）主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度/濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿著膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦罚蚍庋b體引腳間因污染造成短路等。加速壽命試驗(yàn)的目的：提高環(huán)境應(yīng)力（如：溫度、氣壓）與工作應(yīng)力（如：電壓、負(fù)荷等）加快試驗(yàn)過程，縮短產(chǎn)品的壽命試驗(yàn)時(shí)間。用于調(diào)查分析電子元器件、機(jī)械零件等的

• 同高低溫恒溫試驗(yàn)箱校準(zhǔn)方法的優(yōu)缺點(diǎn)對(duì)比

  如何對(duì)高低溫恒溫試驗(yàn)箱溫度進(jìn)行校正?溫度校正方法有以下幾種，在具體工作中要依據(jù)具體情況選好校正方法，對(duì)這幾種校正方式的優(yōu)缺點(diǎn)進(jìn)行詳細(xì)介紹。 不同高低溫恒溫試驗(yàn)箱校準(zhǔn)方法的優(yōu)缺點(diǎn)對(duì)比" ? (1)在無負(fù)荷標(biāo)準(zhǔn)下進(jìn)行校正：優(yōu)勢(shì)是：高低溫恒溫試驗(yàn)箱的所有工作區(qū)域均有校正、試樣越來越多時(shí)*再次校正、可以對(duì)高低溫恒溫試驗(yàn)箱的適用范圍作出合理的評(píng)定。但其關(guān)鍵缺陷在于：無法評(píng)價(jià)試品對(duì)環(huán)境試驗(yàn)箱造成的

• 鹽霧試驗(yàn)箱中鹽霧沉降率對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的影響

  鹽霧沉降率是鹽霧試驗(yàn)的一個(gè)重要參數(shù)，即指單位時(shí)間內(nèi)在單位面積上沉降的鹽霧量，可以反映出噴霧密度和均勻性的特性。鹽霧試驗(yàn)的腐蝕產(chǎn)生，除了受到腐蝕介質(zhì)氯離子本身的作用之外，還受到金屬表面液膜中氧的擴(kuò)散影響。鹽霧顆粒越細(xì)，它所形成的表面積就越大，被吸附的氧量也就越多，腐蝕性也越強(qiáng)。在自然界中，有以上的鹽霧顆粒直徑在1Lm以下。有研究表明直徑1Lm的鹽霧顆粒表面所吸附的氧量與顆粒內(nèi)部溶解的氧量是相對(duì)平衡的