Opto diode多層濾光薄膜在17-150 ?波段的硅光電二極管的特性表征描述

時間：2023-10-10作者：深圳維爾克斯光電有限公司瀏覽：136

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  詞條說明

• Asphericon非球面透鏡基本概念、特點以及應(yīng)用

  非球面透鏡相對于球面透鏡的優(yōu)點非球面透鏡相對于球面透鏡的優(yōu)點有球面像差校正、系統(tǒng)小型化、重量減輕，這些優(yōu)點使得非球面透鏡的成像性能和成像質(zhì)量比球面透鏡更好。像差校正使用球面透鏡，會不可避免出現(xiàn)成像誤差，即所謂的球面像差，這導(dǎo)致圖像略微模糊、失焦，因為光線無法會聚在光軸的同一個焦點上。非球面光學(xué)元件是旋轉(zhuǎn)對稱的，有一個或多個非球面偏離球體形狀，隨著離光軸距離的增加，表面的曲率半徑也隨之改變。這些特性

• 海納光學(xué)新推出一款寬波段紅外探測卡 750-2130nm

  海納新出了一款寬波段紅外探測卡，新出的型號能滿足大多數(shù)用戶的波長要求。寬波段紅外探測卡打破原有國產(chǎn)紅外檢測卡波段窄的限制，將波長從原有的1590nm擴(kuò)大到了2130nm。最為關(guān)鍵的一點是這個新款的紅外檢測卡可替代一系列國產(chǎn)紅外激光探測卡和進(jìn)口的激光可視卡，比如可以替代N-1-AC、N-1-AG、N-1-BG、N-3-AM，俄羅斯phts的IR1/IR2/IR3系列以及索雷博的VRC2、VRC5、V

• 線激光元件被用于晶圓檢測

  在半導(dǎo)體行業(yè)中，極小的表面缺陷和顆粒是一個主要問題，這會降低產(chǎn)量并耗費生產(chǎn)的時間和成本。因此，檢測半導(dǎo)體晶圓表面的缺陷和污染至關(guān)重要，這是在半導(dǎo)體計量行業(yè)許多客戶面臨的挑戰(zhàn)。晶圓表面檢測的快速且具有成本效益的方法之一是使用激光線照明和暗場/明場顯微鏡來檢測缺陷，通常在深紫外（DUV）波長下檢測100nm以下的缺陷。在這種方法中，Holoor指出當(dāng)線沿徑向掃描時，晶圓旋轉(zhuǎn)，產(chǎn)生晶圓的大面積采樣，從而

• 夠產(chǎn)生渦旋光的零級渦旋半波片和螺旋相位板

  螺旋相位片與零級渦旋半波片都被用于產(chǎn)生空心的拉蓋爾-高斯光束，俗稱渦旋光。有些需要獲得渦旋光束的應(yīng)用場合，用戶既可以選擇零級渦旋半波片，又可以選擇螺旋相位板。但零級渦旋半波片是偏振元件，和入射光的偏振態(tài)有關(guān)，螺旋相位片是衍射元件（DOE），輸出效果與入射光的偏振態(tài)無關(guān)。那么，如何區(qū)分螺旋相位片與零級渦旋半波片呢？維爾克斯特意為行業(yè)同仁做了如下對比。零級渦旋半波片和螺旋相位板有很多相似之處-它們都