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在半導體行業中,極小的表面缺陷和顆粒是一個主要問題,這會降低產量并耗費生產的時間和成本。因此,檢測半導體晶圓表面的缺陷和污染至關重要,這是在半導體計量行業許多客戶面臨的挑戰。晶圓表面檢測的快速且具有成本效益的方法之一是使用激光線照明和暗場/明場顯微鏡來檢測缺陷,通常在深紫外(DUV)波長下檢測100nm以下的缺陷。在這種方法中,Holoor指出當線沿徑向掃描時,晶圓旋轉,產生晶圓的大面積采樣,從而
螺旋相位片與零級渦旋半波片都被用于產生空心的拉蓋爾-高斯光束,俗稱渦旋光。有些需要獲得渦旋光束的應用場合,用戶既可以選擇零級渦旋半波片,又可以選擇螺旋相位板。但零級渦旋半波片是偏振元件,和入射光的偏振態有關,螺旋相位片是衍射元件(DOE),輸出效果與入射光的偏振態無關。那么,如何區分螺旋相位片與零級渦旋半波片呢?維爾克斯特意為行業同仁做了如下對比。零級渦旋半波片和螺旋相位板有很多相似之處-它們都
什么是天然鉆石?天然鉆石形成于地表下超過100公里深處,再伴隨著火山噴發等地質活動上升到地面。地幔中的高溫高壓使碳元素結晶形成鉆石,偶爾會將周圍的塵?;蛞后w雜質包裹進去。包裹雜質的鉆石通常含有少量的鈉、鉀和其他能揭示其形成環境信息的礦物質。天然鉆石可分為一型鉆石與二型鉆石,兩者主要區別是氮含量,二型鉆石的純度特別高,氮雜質極少,這種鉆石只占天然鉆石的2%。什么是人造鉆石?傳統的合成方法,稱為高溫高
螺旋相位片的作用是產生一個相位連續單調變化的渦旋光,其表面微結構一般為螺旋結構,因此又稱為渦旋相位片或螺旋相位板。實現的方法是通過人為的在不同空間旋轉角度引入不同的光程差。螺旋相位片的三個關鍵參數是波長、拓撲荷數和精度。波長指的是螺旋相位板的設計波長,拓撲荷數的英文名稱是Topological Charge,對應輸出渦旋光的相位變化,拓撲荷數為1代表輸出光束360°的相位變化為2π,拓撲荷數為6
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