熱插拔帶來的EOS損壞

時間：2020-04-13作者：儀準科技（北京）有限公司瀏覽：218

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  詞條說明

• 電子元器件失效分析方法經驗

  失效分析常用方法匯總 芯片在設計生產使用各環(huán)節(jié)都有可能出現(xiàn)失效，失效分析伴隨芯片全流程。 這里根據(jù)北軟檢測失效分析實驗室經驗，為大家總結了失效分析方法和分析流程，供大家參考。 一、C-SAM（超聲波掃描顯微鏡)，屬于無損檢查: 檢測內容包含： 1.材料內部的晶格結構、雜質顆粒、夾雜物、沉淀物 2.內部裂紋 3.分層缺陷 4.空洞、氣泡、空隙等。 二、 X－Ray（X光檢測），屬于無損檢查: X-R

• 超聲波掃描顯微鏡測試流程

  超聲波掃描顯微鏡測試流程 超聲波掃描顯微鏡含義： 超聲波掃描顯微鏡，英文名是：Scanning Acoustic Microscope，簡稱SAM，由于它的主要工作模式是C模式，因此也簡稱：C-SAM或SAT。 頻率**20KHz的聲波被稱為超聲波。超聲波掃描顯微鏡是理想的無損檢測方式，廣泛的應用在物料檢測（IQC）、失效分析（FA）、質量控制(QC)、質量保證及可靠性(QA/REL)、研發(fā)(R&

• 突發(fā)！北方華創(chuàng)、長江存儲等31家被拉入UVL清單！

  失效分析 趙工?半導體工程師?2022-10-08 10:00?發(fā)表于北京剛剛，芯榜消息：根據(jù)美國聯(lián)邦公報，拜登**宣布了對中國獲得美國半導體技術的新限制，并增加了旨在阻止中國推動發(fā)展自己的芯片產業(yè)和提升該國軍事能力的措施。?據(jù)悉，美國商務部在其認為“未經證實”（UVL）的公司名單中添加了更多名稱，包括31家中國實體。這意味著美國供應商在向這些實體銷售技術時

• 北軟失效分析實驗室參觀

  畢業(yè)季臨近，一大批高校學子將 走出校園，踏入全新的科創(chuàng)生涯 特殊時期，困難攔不住研學實習的腳步 芯學院全新業(yè)務“企業(yè)認知實習”正在進行中 首站云端實習聯(lián)合北京工業(yè)大學 為莘莘學子提供線上實習寶貴機會 北京軟件產品質量檢測檢驗中心的參觀過程中，講解員首先向同學們介紹了兩臺高低溫實驗箱和一臺激光開封機，然后在高潔凈空間實驗室中依次介紹了探針臺、IV曲線測試儀、EMMI（微光顯微鏡）、芯片切割制樣設備、